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磁控濺射物理氣相沉積PVD系統(tǒng) 參考價：面議
磁控濺射物理氣相沉積PVD系統(tǒng)是多功能高壓PVD系統(tǒng),用于磁控濺射和多組分薄膜的熱蒸發(fā)，用于批量晶圓物理氣相沉積加工.
磁控濺射系統(tǒng) 參考價：面議
磁控濺射系統(tǒng)MagSput™是下一代磁控濺射沉積系統(tǒng)，實用性腔,可擴展性高,且高度可靠,feichang適合磁控濺射鍍膜科學研究。
三腔室分子束外延系統(tǒng) 參考價：面議
三腔室分子束外延系統(tǒng)是帶有三個MBE分子束外延生長腔室的異質結材料MBE生長設備,可用于在高達?100mm的襯底上以及三個2英寸以上襯底上一次精確生長外延層,獲...
光誘導力顯微鏡和納米紅外光譜系統(tǒng) 參考價：面議
光誘導力顯微鏡和納米紅外光譜系統(tǒng)采用納米紅外化學分析的光致力顯微納米紅外光譜技術,制作納米級化學mapping映射繪圖和紅外點光譜,獲得比FTIR或納米FTIR...
光纖色散測試儀 參考價：面議
光纖色散測試儀CD500是為光纖色散測量設計的色散測量系統(tǒng),具有測量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產檢測。
光學表面測試儀 參考價：面議
光學表面測試儀是為光學表面平整度測試設計的平整度測量儀,采用Shack-Hartmann波前傳感器技術,激光束從被測光學表面反射后,進入Shack-Hartma...
3D光學輪廓儀 參考價：面議
3D光學輪廓儀是具有白光干涉和相移干涉技術的表面形貌儀,具有高掃描速度,垂直分辨率高達亞納米0.1nm,從而具有三維臺階儀功能。
三維表面形貌儀 參考價：面議
這款三維表面形貌儀是德國進口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學表面形貌儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標準方案或定制性方案對二維形貌或三維...
三維表面輪廓儀 參考價：面議
這款三維表面輪廓儀是德國進口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學輪廓儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標準方案或定制性方案對2D輪廓或三維輪廓...
光伏太陽能光譜橢偏儀 參考價：面議
這款光伏太陽能光譜橢偏儀是專業(yè)為光伏太陽能領域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
大型光譜橢偏儀 參考價：面議
大型光譜橢偏儀SE200BM-M450具有450mm直徑樣品臺，提供更為安全的樣品操作和定位，具有250-850nm的波長范圍，是美國Angstrom公司為大尺...
反射式光譜橢偏儀 參考價：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計聯合使用，測量極小斑點的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導體晶圓等領域,...
自動光譜橢偏儀 參考價：面議
這款自動光譜橢偏儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變入射角的功能。自動spectroscop...
表面平整度測試儀 參考價：面議
哈特曼測量儀Hartmannometer是為測量光學表面平整度設計的哈特曼分析計量儀器,是用方法和工作原理與菲索干涉儀 （Fizeau interferomet...
多功能翹曲度測定儀 參考價：面議
多功能翹曲度測定儀是一款多參數翹曲度測試儀器,可以測量PCB,IC等翹曲度,應變等參數,更可以檢測隨溫度變化的翹曲度值。
單點硅片測厚儀 參考價：面議
單點硅片測厚儀MX30是采用單點測厚技術為硅晶圓厚度測量設計的硅晶圓測厚儀器。適合手動測量單點的晶圓厚度。
晶圓翹曲度厚度測試儀 參考價：面議
晶圓翹曲度厚度測試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測量和晶圓厚度測量設計的晶圓厚度翹曲度測量儀器。
進口光學薄膜測厚儀 參考價：面議
薄膜測厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測量單層薄膜，如氧化物...
鏡片透光率測試儀 參考價：面議
鏡片透光率測試儀是一款眼鏡鏡片透光率測量儀器,廣泛用于薄膜透光率測試,比如LED擴散板透光率測試,鏡頭透光率測試,玻璃透過率測試,隔熱紙材料透過率測試。
薄膜厚度繪圖儀 參考價：面議
薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數。
便攜式薄膜測厚儀 參考價：面議
這款便攜式薄膜測厚儀是便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
自動橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
自動橢圓偏振光譜儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變入射角的功能。
橢圓偏振顯微分光光度計 參考價：面議
橢圓偏振顯微分光光度計MSP集合橢圓偏振光譜儀和顯微光度計功能,適合250-1000nm薄膜膜厚測量,可測量極小斑點的薄膜厚度和折射率,非常適合用于MEMS，半...
光伏光譜橢偏儀 參考價：面議
光伏光譜橢偏儀是專業(yè)為光伏太陽能領域薄膜測量而開的太陽能薄膜橢偏儀,為光伏薄膜厚度測量研究提供便利，具有實時原位測量光伏薄膜厚度和太陽能薄膜厚度繪圖的功能,通過...
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